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所屬分類: | 導(dǎo)熱分析儀(LFA/HFM) |
更新時(shí)間: | 2020-05-08 |
NETZSCH LFA 457 MicroFlash® 代表了當(dāng)代激光閃射測(cè)量技術(shù)的進(jìn)展。儀器為桌上型,溫度范圍 -125 ... 1100℃。為了覆蓋這一溫度范圍,提供了兩種可自由切換的爐體。系統(tǒng)所使用的全新的紅外傳感器技術(shù)使得用戶甚至可以在 -125℃ 的低溫下測(cè)量樣品背部的溫升曲線。
一、產(chǎn)品簡(jiǎn)介
NETZSCH LFA 457 MicroFlash® 代表了當(dāng)代激光閃射測(cè)量技術(shù)的zuixin 進(jìn)展。儀器為桌上型,溫度范圍 -125 ... 1100℃。為了覆蓋這一溫度范圍,提供了兩種可自由切換的爐體。
系統(tǒng)所使用的全新的紅外傳感器技術(shù)使得用戶甚至可以在 -125℃ 的低溫下測(cè)量樣品背部的溫升曲線。
儀器既可使用內(nèi)置的自動(dòng)樣品切換器在一次升溫中對(duì)多個(gè)較小的樣品進(jìn)行測(cè)量,也可單獨(dú)測(cè)量較大的樣品(zui大直徑 25.4mm)。
真空密閉系統(tǒng)使得儀器可以在多種用戶可選的氣氛中進(jìn)行測(cè)量。
樣品支架、爐體與檢測(cè)器的垂直式排布方便了樣品的放置與更換,同時(shí)使得檢測(cè)信號(hào)擁有*的信噪比。
LFA 457 是zui強(qiáng)大與靈活的 LFA 系統(tǒng),適用于包括汽車(chē)制造、航空航天與能源技術(shù)在內(nèi)的各種領(lǐng)域的常規(guī)材料與新型高性能材料的表征。
二、技術(shù)參數(shù)
● 溫度范圍:-125 ... 500℃,RT ... 1100℃(使用兩種可自由更換的爐體)
● 升降溫速率:0.01 ... 50 K/min
● 激光能量:18.5 J/pulse(功率可調(diào))
● 使用紅外檢測(cè)器,進(jìn)行非接觸式的樣品表面溫升信號(hào)測(cè)試
● 熱擴(kuò)散系數(shù)范圍:0.01 ... 1000 mm2/s
● 導(dǎo)熱系數(shù)范圍:0.1 ... 2000 W/m*K
● 樣品直徑:10 ... 25.4 mm 圓,或 8×8 與 10×10mm 方。
● 樣品厚度:0.1 ... 6 mm
● 樣品支架:碳化硅,石墨
● 熔融金屬容器:藍(lán)寶石
● 液體樣品容器:鉑金
● 氣氛:惰性,氧化,還原,靜態(tài),動(dòng)態(tài)
● 真空密閉系統(tǒng),真空度 10-2mbar
三、軟件功能
LFA 457 MicroFlash® 的測(cè)量與分析軟件是基于 MicroSoft Windows® 系統(tǒng)的 Proteus® 軟件包,它包含了所有必要的測(cè)量功能和數(shù)據(jù)分析功能。這一軟件包具有極其友善的用戶界面,包括易于理解的菜單操作和自動(dòng)操作流程,并且適用于各種復(fù)雜的分析。Proteus 軟件既可安裝在儀器的控制電腦上聯(lián)機(jī)工作,也可安裝在其他電腦上脫機(jī)使用。
LFA 部分軟件功能:
● 精確的脈沖寬度修正與脈沖能量積分。
● 熱損耗修正。
● 集成了所有傳統(tǒng)模型。
● 使用非線性回歸進(jìn)行 Cowan 擬合。
● 改進(jìn)的 Cape-Lehmann 模型,使用非線性回歸,將熱損耗納入計(jì)算。
● 對(duì)于半透明樣品的輻射修正。
● 二層與三層結(jié)構(gòu)樣品:通過(guò)非線性回歸方式進(jìn)行擬合,并將熱損耗納入計(jì)算。
● 計(jì)算多層樣品的接觸熱阻。
● 比熱測(cè)量:使用已知比熱的標(biāo)樣、通過(guò)比較法進(jìn)行計(jì)算。
● 內(nèi)置數(shù)據(jù)庫(kù)。
四、相關(guān)附件
LFA 457 MicroFlash® 配有恒溫水浴,以保證溫度與長(zhǎng)時(shí)間工作的穩(wěn)定性。
提供多種類型的真空泵,可以使得測(cè)試在真空或純凈無(wú)氧的惰性氣氛下進(jìn)行。
流量計(jì),用于調(diào)節(jié)吹掃氣體的流量。
由 SiC 或石墨制成的樣品支架與樣品罩,適用于標(biāo)準(zhǔn)樣品尺寸。
提供由鉑金、鋁、藍(lán)寶石等材料制成的多種類型不同尺寸的樣品支架或樣品容器,用于測(cè)量液體樣品、熔融金屬、礦渣與纖維等特殊樣品。
提供用于熱擴(kuò)散系數(shù)驗(yàn)證的標(biāo)準(zhǔn)樣品。
提供用于比熱測(cè)試的參比樣品。
制樣設(shè)備。